製品情報Gantner社 製品一覧

HOME > 製品情報 > Gantne社製品 > システム構成例3

分散型計測システム Q.シリーズ

世界トップクラスのハードウェアの性能はもちろん、厳しい環境での使用に特化した堅牢で長く持ち続けられるハードウェア設計が特長です。また、分散型モジュールによる配線の簡素化はノイズに強く、離れた場所からも簡単に計測データが得られます。



Q.シリーズ-システム構成例3

システム構成例3

要求仕様

計測パラメータ CH数 サンプリングレート
マルチ入力
電圧, 電流, 抵抗, 熱電対 (B, E, J, K, L, T, U, N, R, S), RTD (Pt100, Pt1000),
ひずみ, ポテンショメータ, IEPE®
8CH 100kHz

システム構成

デバイスタイプ 名称 入力信号 ユニット数 CH数 A/D分解能 サンプリング
レート
備考
コントローラ Q.station 101 1 最大 100kHz 高速サンプリング用
(最大 100kHz)
UART 4ポート
(最大 64モジュール)
モジュール Q.bloxx A101
2CH ユニバーサルモジュール
マルチ 4 8 ⊿Σ型 24bit 同時 100kHz 電圧, 電流, 抵抗,
熱電対 (B, E, J, K, L, T, U, N, R, S),
RTD (Pt100, Pt1000),
ひずみ, ポテンショメータ, IEPE®

システム構成例


PAGE
TOP