分散型計測システム Q.シリーズ
世界トップクラスのハードウェアの性能はもちろん、厳しい環境での使用に特化した堅牢で長く持ち続けられるハードウェア設計が特長です。また、分散型モジュールによる配線の簡素化はノイズに強く、離れた場所からも簡単に計測データが得られます。
計測パラメータ | CH数 | サンプリングレート | A/D分解能 | |
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電圧 | 10CH | 20kHz | ⊿Σ型 24bit | |
ICP®(振動) | 2CH | 20kHz | ⊿Σ型 24bit | |
ひずみ | 8CH | 20kHz | ⊿Σ型 24bit | |
温度 | 熱電対 (T.B.D) | 2CH | 20kHz | ⊿Σ型 24bit |
回転パルス 2相 | 4CH | ー | ⊿Σ型 24bit |
サンプリングレート 20kHz (熱電対 100Hz)
デバイスタイプ | 名称 | 入力信号 | ユニット数 | CH数 | A/D分解能 | サンプリング レート |
備考 |
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コントローラ | Q.station 101 | ー | 1 | ー | ー | 最大 100kHz | 高速サンプリング用 (最大 100kHz) UART 4ポート (最大 64モジュール) |
モジュール | Q.bloxx A108 8CH 電圧 入力モジュール |
電圧 |
1 | 8 | ⊿Σ型 24bit | 同時 10kHz | レンジ:±10V |
Q.bloxx A111 4CH IEPE®/電圧 入力モジュール |
電圧/IEPE® | 1 | 電圧 2 IEPE® 2 |
⊿Σ型 24bit | 同時 100kHz | 電圧 /IEPE® レンジ:±100mV, ±1V, ±10V |
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Q.bloxx A116 8CH ひずみ 入力モジュール |
ひずみ | 1 | 8 | ⊿Σ型 24bit | 同時 10kHz | ・ ブリッジ電圧:2V / 4V 選択可能 ・ レンジ:± 1mV/V, ± 2.5mV/V ± 10mV/V |
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Q.bloxx A104 8CH 熱電対 入力モジュール |
温度 (熱電対 T.B.D) |
1 | 8 | ⊿Σ型 24bit | 同時 100Hz | 計測可能な熱電対 B, E, J, K, L, T, U, N, R, S 要CJC内蔵 (別売) |
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Q.bloxx D101 8CH DIOモジュール |
回転パルス | 1 | 8 | ⊿Σ型 24bit | ー | 周波数入力 (パルスカウンタ, 回転方向認識) |
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